產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

  SHJS-A高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種*的測(cè)量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。介損測(cè)試儀淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡(jiǎn)單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，抗干擾能力強(qiáng)， 測(cè)試時(shí)間短等優(yōu)點(diǎn)，是我廠的第三代抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀。

技術(shù)指標(biāo):

1、試驗(yàn)環(huán)境溫度：10℃～30℃（LCD液晶屏應(yīng)避免長時(shí)間日照）

2、相對(duì)濕度：20%～80%

3、供電電源：電壓：220V±10%，頻率50±1Hz

4、外形尺寸：長*寬*高=470mm*320mm*360mm

5、重量：18kg

6、輸出功率：1.5KVA

7、顯示分辨率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）

8、測(cè)試方法：正接法、反接法、外接試驗(yàn)電壓法

9、測(cè)量范圍：內(nèi)接試驗(yàn)電壓：

       tgδ：99.9%

        Cx ：30 pF＜Cx（10KV）＜60000 pF

        10KV  Cx＜60000 pF

        5KV   Cx＜80000 pF

        2.5KV  Cx＜0.3uF

    外接試驗(yàn)電壓：由外接試驗(yàn)變壓器輸出功率而定

10、基本測(cè)量誤差：介質(zhì)損耗（tgδ）：1%±0.09% 

    電容容量（Cx）：1.5%±1pF

11、分辨率： tgδ：0.01%   Cx ：0.1pF

介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理:

儀器測(cè)量線路包括一路標(biāo)準(zhǔn)回路和一路測(cè)試回路，如圖所示。

標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高壓穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與標(biāo)準(zhǔn)電阻網(wǎng)絡(luò)組成，由計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)采集標(biāo)準(zhǔn)回路電流與測(cè)試回路的電流幅值及其相位差，并算出被測(cè)試品電容容值（CX）和介質(zhì)損耗（tgδ）。

數(shù)據(jù)采集電路全部采用高壓穩(wěn)定器件，采集板和采集計(jì)算機(jī)被鐵盒*浮空屏蔽，儀器外殼接地屏蔽；另外使用了光導(dǎo)數(shù)據(jù)、浮空地、大面積地、單點(diǎn)地、數(shù)字濾波等抗干擾技術(shù)，加之計(jì)算機(jī)對(duì)數(shù)百個(gè)電網(wǎng)周期的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，使測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定、精確、可靠。

產(chǎn)品別稱：

   智能介質(zhì)損耗測(cè)試儀、變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀、介損測(cè)試儀、抗干擾介損測(cè)試儀、全自動(dòng)介損測(cè)試儀、異頻介損測(cè)試儀、異頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀、抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀、全自動(dòng)介質(zhì)損耗測(cè)試儀、變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀。